VLF系(xi)列超(chao)低(di)頻(pin)高(gao)壓(ya)發(fa)生(sheng)器(qi)的(de)技(ji)術特(te)點與(yu)優(you)勢

壹(yi)、引(yin)言(yan)

隨著電(dian)力(li)系統(tong)的(de)發(fa)展，絕(jue)緣性(xing)能(neng)測試(shi)變得越來(lai)越重要。傳(chuan)統(tong)的(de)工(gong)頻(pin)耐壓(ya)試(shi)驗方(fang)法由於(yu)其(qi)設備(bei)笨(ben)重(zhong)、能(neng)耗高、操(cao)作不便等問題(ti)，在(zai)實際應用(yong)中(zhong)面臨(lin)諸(zhu)多挑(tiao)戰(zhan)。而(er)VLF（Very Low Frequency）系列(lie)超(chao)低(di)頻(pin)高(gao)壓(ya)發(fa)生(sheng)器(qi)以(yi)其(qi)高(gao)效(xiao)節能(neng)、操作簡便等優(you)點，逐(zhu)漸(jian)成為(wei)電(dian)力(li)系統(tong)絕(jue)緣檢(jian)測的(de)重(zhong)要工(gong)具。

二(er)、技術特(te)點

降(jiang)低(di)試(shi)驗頻(pin)率(lv)

VLF設備(bei)通(tong)過(guo)將(jiang)頻(pin)率(lv)降(jiang)至0.1Hz甚至更低(di)（如0.05Hz、0.02Hz、0.01Hz），顯著降(jiang)低(di)了(le)所需(xu)電(dian)源(yuan)容量，使得設備(bei)體積(ji)和(he)重(zhong)量大幅(fu)減(jian)小(xiao)。

高(gao)精度(du)測量

采(cai)用7寸觸摸屏和(he)進口(kou)高速AD采(cai)集電(dian)路(lu)，確(que)保了設備(bei)的(de)高(gao)精度(du)和(he)穩定性(xing)。測量精度(du)為(wei)3%，電(dian)壓(ya)正(zheng)負峰(feng)值誤(wu)差不(bu)超(chao)過3％，波形失真度(du)不(bu)超(chao)過5％。

多(duo)功能(neng)性(xing)

支(zhi)持多(duo)種(zhong)輸出頻(pin)率(lv)，適(shi)應(ying)不(bu)同(tong)測試(shi)需求。例(li)如，對於(yu)較小(xiao)電(dian)容(rong)值的試(shi)品（如≤0.7µF），可(ke)以(yi)選(xuan)擇(ze)0.1Hz；而(er)對於(yu)較大的(de)電(dian)容(rong)值（如≥5.5µF），則(ze)可(ke)能(neng)需要選(xuan)擇更(geng)低(di)的(de)頻(pin)率(lv)，如0.02Hz或(huo)0.01Hz。

三(san)、優(you)勢分(fen)析(xi)

高效(xiao)節能(neng)

理論上(shang)，VLF設備(bei)的(de)容(rong)量約(yue)為(wei)工(gong)頻(pin)的(de)五百分(fen)之壹，大大減(jian)少(shao)了(le)電(dian)力(li)消耗。

便(bian)攜(xie)性(xing)

設備(bei)體積(ji)小(xiao)、重(zhong)量輕，便於(yu)攜(xie)帶至不同的(de)測試(shi)現場，極大地(di)提高了工(gong)作效(xiao)率(lv)。

操(cao)作簡便

操(cao)作界(jie)面友(you)好，用戶(hu)可(ke)以(yi)輕松完成復(fu)雜的(de)測試(shi)任務(wu)，無(wu)需(xu)復(fu)雜培(pei)訓(xun)即(ji)可(ke)上(shang)手(shou)使用。