知(zhi)識科普(pu)之(zhi)CT參數(shu)分析(xi)儀

　　CT參數(shu)分析(xi)儀是(shi)壹(yi)種(zhong)用於測試(shi)和(he)分析(xi)電流互(hu)感(gan)器(qi)各(ge)項(xiang)性(xing)能參數(shu)的(de)專用(yong)電(dian)氣(qi)檢測設(she)備(bei)。它(ta)主要(yao)用於電(dian)力(li)系(xi)統(tong)(發(fa)電廠(chang)、變(bian)電(dian)站(zhan))、工(gong)業用(yong)電(dian)系統(tong)、電(dian)氣(qi)設(she)備(bei)制(zhi)造和(he)檢(jian)修(xiu)單位(wei)、電(dian)力(li)科研及計量部門，確(que)保(bao)電(dian)流互(hu)感(gan)器(qi)的(de)性能符(fu)合(he)設(she)計和(he)使(shi)用(yong)要(yao)求，保(bao)障電力(li)系(xi)統(tong)的(de)安全(quan)、穩(wen)定、精確(que)運行。
 

　　壹(yi)、核心(xin)功(gong)能與應用(yong)
 

　　CT參數(shu)分析(xi)儀的(de)核心(xin)任(ren)務(wu)是(shi)評估CT在各種(zhong)工況下的(de)性能。其主(zhu)要(yao)測試(shi)功能包括：
 

　　​​1.電(dian)氣參數(shu)測(ce)試(shi)：​​
 

　　​​變(bian)比(bi)/匝數(shu)比(bi)測(ce)試(shi)：​​ 精確(que)測量壹(yi)次(ci)電(dian)流與(yu)二(er)次(ci)電(dian)流的(de)比值(zhi)。這(zhe)是(shi)CT最(zui)基本(ben)也(ye)是(shi)最(zui)重要(yao)的(de)參數(shu)。
 

　　​​極(ji)性(xing)檢(jian)測：​​ 驗證CT壹次(ci)側(ce)和(he)二(er)次(ci)側(ce)感(gan)應電(dian)動勢(shi)的(de)相位(wei)關(guan)系(即“減極(ji)性(xing)”或“加極(ji)性(xing)”，通(tong)常(chang)要(yao)求為(wei)減極(ji)性)。對(dui)保(bao)護(hu)回路(lu)的(de)正確(que)動作至(zhi)關(guan)重要(yao)。
 

　　​​勵磁(伏(fu)安(an))特(te)性(xing)曲(qu)線(xian)：​​ 這(zhe)是(shi)CT的(de)核心(xin)特(te)性(xing)測(ce)試(shi)。通(tong)過施(shi)加(jia)逐(zhu)漸(jian)升(sheng)高(gao)的(de)電壓(ya)到CT二次(ci)側(ce)，測(ce)量(liang)對(dui)應的(de)勵磁電流，描(miao)繪(hui)出伏(fu)安(an)特(te)性(xing)曲(qu)線(xian)。該曲(qu)線(xian)用(yong)於(yu)：
 

　　計算CT的(de)​​飽和(he)度(du)​​：判斷(duan)CT在實(shi)際故(gu)障電流下(xia)是(shi)否會(hui)飽和(he)，確(que)保(bao)保(bao)護(hu)裝(zhuang)置能正確(que)動作。
 

　　評估​​拐點(dian)電壓(ya)/電(dian)流​​：確(que)定特(te)性(xing)曲(qu)線(xian)上(shang)開(kai)始進入飽(bao)和(he)區(qu)的(de)臨(lin)界(jie)點(dian)。
 

　　計算​​準確(que)極限系(xi)數(shu)/儀(yi)表安(an)全系數(shu)​​：衡量(liang)CT在(zai)保(bao)護(hu)或測量(liang)回路(lu)中(zhong)的(de)適用(yong)性(xing)。
 

　　估(gu)算​​二次(ci)極(ji)限(xian)電(dian)動勢(shi)​​。
 

　　​​二次(ci)繞(rao)組(zu)直流電(dian)阻(zu)測量(liang)：​​ 測量二(er)次(ci)繞(rao)組(zu)的(de)直流電(dian)阻(zu)值(zhi)，判(pan)斷(duan)繞(rao)組(zu)是(shi)否存在(zai)接觸不良(liang)、過熱(re)、匝間短路(lu)等隱(yin)患。這對(dui)於(yu)電(dian)流回路(lu)壓(ya)降計算也(ye)很(hen)重(zhong)要(yao)。
 

　　​​二次(ci)回路(lu)負(fu)載(zai)測(ce)試(shi)：​​ 測量CT二(er)次(ci)側(ce)實(shi)際連(lian)接的(de)阻抗(kang)(二次(ci)導線(xian)阻抗(kang) + 保(bao)護(hu)/計量設(she)備(bei)阻(zu)抗(kang))，驗證其是(shi)否在(zai)CT允許的(de)額定負(fu)荷(he)範圍(wei)內(nei)。負(fu)荷(he)過重會影(ying)響(xiang)精度(du)甚(shen)至(zhi)導致過熱(re)損壞(huai)。
 

　　​​2.誤差測量：​​
 

　　​​比(bi)差(cha)：實(shi)際二(er)次(ci)電(dian)流乘(cheng)以額定變(bian)比(bi)與壹次(ci)電(dian)流實(shi)際值(zhi)的(de)差值(zhi)相對(dui)於(yu)壹(yi)次(ci)電(dian)流實(shi)際值(zhi)的(de)百分比(bi)(相位(wei)補償(chang)後)。
 

　　​​角(jiao)差：​​壹次(ci)電(dian)流相量與(yu)旋轉180度(du)後的(de)二次(ci)電(dian)流相量之(zhi)間的(de)相位(wei)差(cha)，通(tong)常(chang)以分或厘弧(hu)表示。
 

　　​​復合(he)誤差：​​主要(yao)用於評價保(bao)護(hu)用(yong)CT(P級)的(de)性能，是(shi)包含相位(wei)和(he)幅值(zhi)影(ying)響(xiang)的(de)綜合(he)誤差。
 

　　​​準確(que)度(du)等級驗(yan)證(zheng)：​​基於比差和(he)角(jiao)差結(jie)果，判斷該CT是(shi)否符(fu)合(he)其聲(sheng)稱(cheng)的(de)測量(liang)精度(du)等級或保(bao)護(hu)準確(que)級。
 

　　​​3.特(te)殊測試(shi)：​​
 

　　​​絕緣電阻(zu)測(ce)試(shi)：​​ 測試(shi)CT壹次(ci)對(dui)二(er)次(ci)、二(er)次(ci)對(dui)地(di)等絕緣情(qing)況。
 

　　​​二次(ci)繞(rao)組(zu)時(shi)間常(chang)數(shu)估(gu)算(suan)：​​ 對(dui)於(yu)保(bao)護(hu)級CT很(hen)重(zhong)要(yao)。
 

　　​​剩磁系數(shu)測(ce)量(liang)：​​ 評估鐵芯材(cai)料的(de)剩磁大小(xiao)，剩磁會影(ying)響(xiang)CT的(de)飽和(he)特(te)性(xing)。
 

　　​​退(tui)磁：​​ 在測試(shi)勵磁特(te)性(xing)或更換工作環境(jing)前(qian)，對(dui)CT進行(xing)退(tui)磁處理(li)，消除鐵芯中(zhong)的(de)剩磁影(ying)響(xiang)。
 

　　二、核心(xin)優勢(shi)
 

　　相比於(yu)傳統(tong)的(de)單壹功(gong)能測試(shi)儀表組(zu)合(he)，現(xian)代CT參數(shu)分析(xi)儀具(ju)有顯(xian)著(zhu)優勢(shi)：
 

　　​​1.高度(du)集成(cheng)化：​​ 壹臺(tai)儀(yi)器(qi)取(qu)代了傳(chuan)統的(de)變(bian)比(bi)電橋(qiao)、電流負(fu)載(zai)箱(xiang)、單相調壓(ya)器(qi)、標(biao)準CT、電壓(ya)/電(dian)流表、電(dian)位(wei)差(cha)計等多(duo)種(zhong)設備(bei)。
 

　　​​2.自動化與智(zhi)能化：​​ 通(tong)常(chang)配備(bei)大屏(ping)幕(mu)液晶(jing)顯(xian)示器(qi)和(he)微處理(li)器(qi)，操(cao)作簡(jian)單，壹鍵自動完(wan)成(cheng)多(duo)個測(ce)試(shi)項目(mu)，自動計算和(he)顯(xian)示結(jie)果，自動判(pan)斷是(shi)否合(he)格(ge)。
 

　　​​3.高(gao)效(xiao)率：​​ 極(ji)大地(di)縮(suo)短了測(ce)試(shi)準備(bei)時(shi)間和(he)測(ce)試(shi)執行時(shi)間，提高(gao)了現(xian)場(chang)工作效率。
 

　　​​4.高(gao)精度(du)：​​ 采用(yong)先(xian)進的(de)電子(zi)技(ji)術(shu)和(he)ADC/DAC轉換器(qi)，測(ce)試(shi)精度(du)高，重(zhong)復性(xing)好(hao)。
 

　　​​5.數(shu)據(ju)管理(li)：​​ 具備(bei)數(shu)據(ju)存儲(chu)、查(zha)閱、導出功(gong)能(到U盤或通(tong)過通(tong)訊(xun)接口)，方便生(sheng)成(cheng)測試(shi)報告(gao)和(he)建(jian)立設備(bei)檔(dang)案。許多(duo)儀器(qi)支持(chi)USB、藍牙或Wi-Fi連接PC。
 

　　​​6.安全(quan)可(ke)靠(kao)：​​ 提供多(duo)種(zhong)安全保(bao)護(hu)機制(zhi)(過壓(ya)、過(guo)流保(bao)護(hu))，測(ce)試(shi)電壓(ya)電(dian)流可(ke)控、可(ke)調，確(que)保(bao)設(she)備(bei)和(he)人(ren)員安(an)全(quan)。
 

　　​​7.便攜(xie)性(xing)：​​ 設計緊湊，重(zhong)量(liang)輕，適合(he)現(xian)場(chang)攜帶(dai)使(shi)用(yong)(尤其在(zai)變(bian)電(dian)站(zhan)等狹小(xiao)空間)。
 

　　​​8.功能性強大：​​ 除了上(shang)述核心(xin)功(gong)能外，通(tong)常(chang)還具備(bei)測(ce)試(shi)電壓(ya)互(hu)感(gan)器(qi)(PT)的(de)功能(變(bian)比(bi)、極性、直阻、伏(fu)安(an)特(te)性(xing))，成(cheng)為(wei)“CT/PT分析(xi)儀”。
 

　　三(san)、工(gong)作原理(li)簡(jian)述
 

　　1​​.內置信(xin)號源(yuan)：​​ 儀(yi)器(qi)內(nei)部擁有壹(yi)個(ge)功率可(ke)調的(de)高精度(du)信號源(yuan)(電(dian)流源(yuan)和(he)/或電壓(ya)源(yuan))。
 

　　​​2.連(lian)接被測(ce)CT：​​ 按照測(ce)試(shi)項目(mu)的(de)要(yao)求(如(ru)變(bian)比(bi)、直阻、勵(li)磁等)，將儀(yi)器(qi)的(de)輸出端(duan)子(zi)和(he)測(ce)量端(duan)子(zi)正確(que)連接到CT的(de)壹次(ci)和(he)二(er)次(ci)側(ce)。
 

　　​​3.施(shi)加(jia)測(ce)試(shi)信號：​​ 根(gen)據(ju)預(yu)設程序(xu)或用戶(hu)設(she)置，向CT施加(jia)所(suo)需(xu)的(de)測試(shi)電流或電壓(ya)信(xin)號。
 

　　4.​​精密測(ce)量(liang)：​​ 通(tong)過內(nei)部的(de)高精度(du)電壓(ya)、電(dian)流傳(chuan)感(gan)器(qi)和(he)高(gao)分辨(bian)率ADC，實(shi)時(shi)采集被測CT上(shang)的(de)電壓(ya)、電(dian)流信(xin)號。
 

　　5​​.數(shu)據(ju)處(chu)理(li)與計算：​​ 內(nei)置的(de)微處理(li)器(qi)對(dui)采(cai)集的(de)數(shu)據(ju)進行(xing)高(gao)速(su)運算和(he)分析(xi)，計算出所(suo)需(xu)的(de)各項(xiang)參數(shu)(變(bian)比(bi)、直阻、比(bi)差(cha)、角(jiao)差、畫出伏(fu)安(an)曲(qu)線(xian)、計算拐(guai)點(dian)、復合(he)誤差等)。
 

　　​​6.結(jie)果顯(xian)示與輸(shu)出：​​ 結(jie)果實時顯(xian)示在屏(ping)幕(mu)上(shang)。測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)可(ke)存儲(chu)於(yu)內部存儲(chu)器(qi)，並可(ke)連(lian)接打(da)印(yin)機打(da)印(yin)測試(shi)報告(gao)或通(tong)過通(tong)訊(xun)接口傳輸到電腦(nao)。
 

　　總結(jie)：
 

　　CT參數(shu)分析(xi)儀是(shi)保(bao)障電流互(hu)感(gan)器(qi)準確(que)可(ke)靠(kao)運行的(de)專業測(ce)試(shi)工具。它(ta)的(de)集成(cheng)化、自動化、智能化和(he)高(gao)精度(du)特(te)點(dian)，改變(bian)了傳(chuan)統繁瑣、耗時(shi)的(de)CT測試(shi)方式(shi)，極大地(di)提(ti)升了電(dian)力(li)系(xi)統(tong)設(she)備(bei)檢(jian)測的(de)效率和(he)可(ke)靠(kao)性。對(dui)於(yu)確(que)保(bao)電(dian)力(li)系(xi)統(tong)的(de)安全(quan)運行、保(bao)護(hu)裝(zhuang)置的(de)精確(que)動作、計量數(shu)據(ju)的(de)準確(que)可(ke)靠(kao)以及設備(bei)狀(zhuang)態(tai)的(de)檢修(xiu)維(wei)護(hu)，都(dou)具有極(ji)其重(zhong)要(yao)的(de)意(yi)義(yi)。無論(lun)是(shi)新(xin)CT的(de)驗收、投運前(qian)的(de)檢查(zha)，還(hai)是(shi)運行周期(qi)的(de)預防(fang)性(xing)試(shi)驗或故(gu)障診斷，都需(xu)要(yao)依(yi)賴CT參數(shu)分析(xi)儀進行(xing)全(quan)面的(de)性能評估。