抗力(li)強(qiang)、測(ce)試(shi)速(su)度(du)快(kuai)、精(jing)度(du)高(gao)可(ke)提(ti)供(gong)10kV的電(dian)壓(ya)具(ju)備(bei)CVT的(de)自(zi)激法測(ce)試(shi)

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-12-02

廠(chang)商(shang)性(xing)質(zhi)：生(sheng)產(chan)廠(chang)家(jia)

訪(fang)問(wen)量(liang)：589

產(chan)品咨(zi)詢 13720305159

產(chan)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

變(bian)壓(ya)器(qi)測(ce)試(shi)儀器(qi)

UHV變壓(ya)器(qi)繞(rao)組(zu)變(bian)形(xing)測(ce)試(shi)儀 UHV-315變(bian)壓(ya)器(qi)綜合測(ce)試(shi)臺(tai) UHV變壓(ya)器(qi)容(rong)量(liang)及空(kong)載(zai)負(fu)載 UHV變壓(ya)器(qi)變(bian)比(bi)組(zu)別(bie)測(ce)試(shi)儀 UHV多功能(neng)變(bian)比(bi)測(ce)試(shi)儀全自(zi)動(dong)抗幹擾(rao)異(yi)頻(pin)介(jie)損測(ce)試(shi) UHV異頻(pin)介(jie)質(zhi)損耗(hao)測(ce)試(shi)儀 UHV變(bian)壓(ya)器(qi)短(duan)路阻(zu)抗測(ce)試(shi)儀 UHV變(bian)壓(ya)器(qi)有(you)載(zai)開(kai)關測(ce)試(shi)儀三回(hui)路變壓(ya)器(qi)直(zhi)流(liu)電(dian)阻測(ce)試(shi) UHV直流(liu)電阻快速(su)測(ce)試(shi)儀

查(zha)看全部(bu)產(chan)品

2025-12-02

互感(gan)器(qi)檢(jian)測(ce)設備觀察(cha)：解析武(wu)漢(han)特高(gao)壓(ya)CT分析儀(yi)

2025-11-21

武(wu)漢特(te)高壓(ya)變(bian)壓(ya)器(qi)有(you)載(zai)分接(jie)開(kai)關測(ce)試(shi)儀：分接(jie)開(kai)關的(de) “健(jian)康診斷專(zhuan)家(jia)”

2025-09-26

從脈沖反射到(dao)聲(sheng)磁同(tong)步：電(dian)纜檢測(ce)的精(jing)準化(hua)演(yan)進

2025-10-14

詳細介(jie)紹(shao)

品牌(pai)	其(qi)他(ta)品牌(pai)

介(jie)損絕(jue)緣試(shi)驗可以有(you)效(xiao)地發(fa)現(xian)電(dian)器設備絕(jue)緣的整(zheng)體(ti)受(shou)潮(chao)劣化(hua)變(bian)質(zhi)，以(yi)及(ji)局部缺陷(xian)等，在電工(gong)制造、電氣(qi)設備安(an)裝、交接(jie)和(he)預防性(xing)試(shi)驗中都(dou)廣泛(fan)應用。

本(ben)儀(yi)器(qi)采用變(bian)頻(pin)電源技(ji)術(shu)，利(li)用單(dan)片機和(he)電子(zi)技術(shu)進行(xing)自(zi)動(dong)頻(pin)率變(bian)換(huan)、模/數轉換(huan)和(he)數據(ju)運(yun)算(suan)，達到(dao)抗力(li)強(qiang)、測(ce)試(shi)速(su)度(du)快(kuai)、精(jing)度(du)高(gao)、操(cao)作(zuo)簡便(bian)的功能(neng)。

變(bian)頻(pin)電源采用大(da)功率(lv)開(kai)關電(dian)源，輸出(chu)45Hz和(he)55Hz純正(zheng)弦(xian)波(bo)，自動(dong)加(jia)壓(ya)，可(ke)提(ti)供(gong)10kV的電(dian)壓(ya)；自(zi)動(dong)濾(lv)除(chu)50Hz幹(gan)擾(rao)，適(shi)用於(yu)變電(dian)站(zhan)等電磁幹(gan)擾(rao)大(da)的現(xian)場(chang)測(ce)試(shi)。

產(chan)品別(bie)稱：介(jie)損測(ce)試(shi)儀、抗幹擾(rao)介(jie)損測(ce)試(shi)儀、全自(zi)動(dong)介(jie)損測(ce)試(shi)儀、異(yi)頻(pin)介(jie)損測(ce)試(shi)儀、異(yi)頻(pin)介(jie)質(zhi)損耗(hao)測(ce)試(shi)儀、抗幹擾(rao)介(jie)質(zhi)損耗(hao)測(ce)試(shi)儀、全自(zi)動(dong)介(jie)質(zhi)損耗(hao)測(ce)試(shi)儀

產(chan)品參(can)數(shu)

技(ji)術(shu)參(can)數(shu)

準確度(du)	Cx：±(讀(du)數(shu)×1%+1pF)
準確度(du)	tgδ：±(讀(du)數×1%+0.00040)
抗幹擾(rao)指(zhi)標(biao)	變頻(pin)抗幹擾(rao),在(zai) 200%幹擾(rao)下仍(reng)能(neng)達到(dao)上(shang)述準確度(du)
電(dian)容(rong)量(liang)範圍	內施(shi)高壓(ya)：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
	外(wai)施高壓(ya)：3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
	分辨率： 0.001pF,4位有(you)效(xiao)數字
tgδ範圍	不限(xian)，分辨率0.001%，電容、電(dian)感、電(dian)阻(zu)三種(zhong)試(shi)品自(zi)動(dong)識別(bie)
試(shi)驗電流範圍	10μA～5A
內施(shi)高壓(ya)	設定電(dian)壓(ya)範圍：0.5～10kV
	輸出(chu)電流：200mA
	升降(jiang)壓(ya)方(fang)式(shi)：連續(xu)平(ping)滑(hua)調(tiao)節
	電壓(ya)精(jing)度(du)：±(1.5%×讀(du)數(shu)+10V)
外(wai)施高壓(ya)	正(zheng)接(jie)線時(shi)試(shi)驗電流1A，工(gong)頻(pin)或(huo)變(bian)頻(pin)40～70Hz
外(wai)施高壓(ya)	反接(jie)線時(shi)試(shi)驗電流1A/10kV，工(gong)頻(pin)或(huo)變(bian)頻(pin)40～70Hz
CVT自激發低壓(ya)輸出(chu)	輸出(chu)電壓(ya)3～50V,輸出(chu)電流3～30A
測(ce)量(liang)時(shi)間(jian)	約(yue)40s與(yu)測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)有(you)關
輸入電源	180V～270VAC,50Hz/60Hz±1%,市(shi)電(dian)或(huo)發(fa)電(dian)機供(gong)電
環境濕(shi)度(du)	-10℃～50℃
相對濕(shi)度(du)	＜90%
外(wai)形(xing)尺寸(cun)	435×340×340mm²
重量(liang)	31kg（不含(han)線(xian)包(bao)）

註：

1.產(chan)品外(wai)觀以實際產(chan)品為準，技(ji)術(shu)參(can)數(shu)與(yu)型(xing)號如(ru)有(you)變(bian)動(dong)，恕(shu)不(bu)另行通知(zhi)。如(ru)有(you)盜用或(huo)復印(yin)行為，將追究(jiu)法律(lv)責(ze)任(ren)。

2.了(le)解更(geng)多特高壓(ya)產(chan)品信(xin)息(xi)請進入產(chan)品中心。：

產(chan)品特(te)征

1、具備(bei)CVT的(de)自激法測(ce)試(shi)，壹次(ci)接(jie)線，同(tong)時(shi)測(ce)量(liang) C1、C2的電(dian)容(rong)和(he)tgδ
2、具有(you)反接(jie)線低(di)壓(ya)屏(ping)蔽(bi)功能(neng)，在(zai)CVT母(mu)線(xian)接(jie)地情(qing)況下，對(dui)C11可(ke)進行(xing)不(bu)拆(chai)線(xian)10kV反接(jie)線介(jie)損測(ce)量(liang)
3、具有(you)外(wai)施電壓(ya)和(he)外(wai)加(jia)C_N的測(ce)量(liang)功能(neng)
4、儀(yi)器(qi)測(ce)量(liang)準確度(du)高(gao)，可(ke)滿(man)足(zu)油(you)介(jie)損測(ce)量(liang)要求(qiu)，因(yin)此只(zhi)需配(pei)備(bei)標準油(you)杯，和(he)專用測(ce)試(shi)線即(ji)可實現(xian)油(you)介(jie)損測(ce)量(liang)
5、采用變(bian)頻(pin)技術(shu)來消除(chu)現(xian)場(chang)50Hz工(gong)頻(pin)幹擾(rao)，即(ji)使在強電(dian)磁幹(gan)擾(rao)的(de)環境下也能(neng)測(ce)得可(ke)靠的(de)數據(ju)
6、過(guo)流保護功能(neng)，在(zai)試(shi)品短(duan)路或(huo)擊穿(chuan)時(shi)儀(yi)器(qi)不(bu)受(shou)損壞(huai)
7、內附(fu)標準電(dian)容(rong)和(he)高壓(ya)電(dian)源，便(bian)於(yu)現(xian)場(chang)測(ce)試(shi)，減(jian)少(shao)現(xian)場(chang)接(jie)線
8、儀(yi)器(qi)采用大(da)屏(ping)幕液(ye)晶顯(xian)示(shi)器(qi)，測(ce)試(shi)過(guo)程通過(guo)漢字(zi)菜單(dan)提(ti)示(shi)既(ji)直(zhi)觀又(you)便於(yu)操(cao)作(zuo)