UHV-H100P高(gao)精度(du)回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀適用於(yu)其(qi)它(ta)需(xu)要大(da)電流(liu)、微(wei)電阻(zu)測(ce)量的(de)場(chang)合(he)采用(yong)開關(guan)電源技術(shu)，能長時(shi)間連續輸出(chu)大(da)電流(liu)體(ti)積(ji)小、重量輕、便於(yu)攜帶。

目前(qian)，電力系(xi)統中普遍采(cai)用常(chang)規的(de)QJ44型(xing)雙臂直流電(dian)橋(qiao)測(ce)量接(jie)觸電(dian)阻(zu)，而這類(lei)電橋(qiao)的測(ce)試(shi)電流(liu)僅m，難(nan)以(yi)發現回路導體截面積(ji)減少(shao)的缺(que)陷(xian)。在(zai)測(ce)量高(gao)壓開(kai)關(guan)導電回路接觸電(dian)阻(zu)時(shi)，由(you)於(yu)受(shou)觸頭(tou)之(zhi)間油(you)膜(mo)和(he)氧化(hua)層(ceng)的(de)影(ying)響(xiang)，測(ce)量值(zhi)偏(pian)大(da)若幹(gan)倍，無(wu)法(fa)真(zhen)實(shi)的(de)反映接(jie)觸電(dian)阻(zu)值(zhi)。為(wei)此(ci)，電(dian)力部(bu)標(biao)準DL/T845.4—2004《電(dian)阻(zu)測(ce)量裝置(zhi)通用(yong)技術(shu)條件(jian)：回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀》和(he)新版(ban)檢定規程JJG1052-2009《回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀、直阻(zu)儀檢定規程》作出(chu)對(dui)測(ce)量（隔(ge)離）開關(guan)、斷路(lu)器(qi)等(deng)接(jie)觸電(dian)阻(zu)的(de)測(ce)量電(dian)流(liu)不(bu)小(xiao)於(yu)直(zhi)流100A，最(zui)小(xiao)電(dian)流(liu)維持(chi)時間不低(di)於(yu)60S的(de)規定，確保(bao)試(shi)驗(yan)結(jie)果(guo)準(zhun)確。

UHV-H100P高(gao)精度(du)回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀操作面(mian)板(ban)采(cai)用(yong)人(ren)體(ti)工學(xue)設計，符合(he)操作習(xi)慣(guan)，采用高(gao)頻(pin)開關(guan)電源和(he)數字(zi)電路技術(shu)，適用於(yu)開(kai)關(guan)控制(zhi)設備(bei)回路電阻(zu)的(de)測(ce)量。測(ce)試(shi)電流(liu)采用國家(jia)標(biao)準推(tui)薦(jian)的(de)直流(liu)100A。可在(zai)直流(liu)100A的情況(kuang)下直(zhi)接測(ce)得回路電阻(zu)，測(ce)試(shi)結果(guo)用大(da)屏幕液(ye)晶LCD顯(xian)示，並(bing)有(you)數據存(cun)儲、輸出(chu)打印、時(shi)間設置(zhi)等功能(neng)，另有(you)50A檔(dang)位(wei)供用戶(hu)選(xuan)擇；是(shi)國內(nei)能達到(dao)0.01μΩ分(fen)辨(bian)率(lv)且十分(fen)穩定的接觸電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀，性能超過進(jin)口(kou)大(da)電流(liu)微(wei)歐計。UHV-H100P高(gao)精度(du)回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀符合(he)電力、供電部(bu)門(men)現場高(gao)壓開(kai)關(guan)維修(xiu)和(he)高(gao)壓開(kai)關(guan)廠回路電阻(zu)測(ce)試(shi)的要(yao)求。

產品別稱：接觸電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀、開關(guan)回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀、接觸回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀、接觸(回路)電阻(zu)測(ce)試(shi)儀、智能回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀

產品參(can)數(shu)

技術(shu)參數

註：

1、產(chan)品(pin)外(wai)觀(guan)以實(shi)際產品(pin)為(wei)準(zhun)，技術(shu)參數與(yu)型(xing)號如(ru)有(you)變(bian)動，恕(shu)不另行通(tong)知。如(ru)有(you)盜用(yong)或復(fu)印(yin)行為(wei)，將追(zhui)究(jiu)法(fa)律責(ze)任。

2、了(le)解更(geng)多(duo)特(te)高(gao)壓產(chan)品信(xin)息請(qing)進(jin)入產(chan)品(pin)中(zhong)心 。

產品(pin)特(te)征

1、大(da)電流(liu)：采(cai)用開(kai)關(guan)電源技術(shu)，能長時(shi)間連續輸出(chu)大(da)電流(liu)，克(ke)服了(le)脈沖(chong)式電源瞬(shun)間電流(liu)的(de)弊(bi)端，可以(yi)有(you)效(xiao)的擊(ji)穿(chuan)開(kai)關(guan)觸頭(tou)氧(yang)化(hua)膜(mo)，得(de)到(dao)良好的測(ce)試(shi)結果(guo)。

2、高(gao)穩定性：在(zai)嚴重幹(gan)擾條(tiao)件(jian)下，液(ye)晶屏位(wei)數據能(neng)穩定在(zai)±1個字範(fan)圍內，讀數(shu)穩(wen)定，重復性好。

3、高(gao)精度(du)：采用(yong)雙路高(gao)速16位(wei)Σ－Δ AD采樣，數字(zi)信(xin)號處(chu)理(li)技術(shu)，分(fen)辨(bian)力達到(dao)0.01μΩ，是(shi)目(mu)前(qian)國內(nei)能達到(dao)0.01μΩ分(fen)辨(bian)力且十分(fen)穩定的接觸電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀，性能超過了進(jin)口(kou)大(da)電流(liu)微(wei)歐計。

4、智(zhi)能化(hua)：進(jin)口(kou)高(gao)性能(neng)CPU，測(ce)量時(shi)系(xi)統根(gen)據信(xin)號大(da)小自(zi)動(dong)切(qie)換(huan)量(liang)程，確保(bao)測(ce)試(shi)準確(que)度。過溫保(bao)護(hu)電(dian)路(lu)能(neng)夠在(zai)儀器超過設定溫度時自(zi)動(dong)停(ting)止輸出(chu)電流(liu)，確(que)保(bao)儀器安全(quan)使(shi)用。

5、高(gao)品質(zhi)：關(guan)鍵部(bu)件(jian)全部(bu)采(cai)用進(jin)口(kou)元(yuan)件(jian)，通過(guo)巧妙設(she)計的(de)溫度(du)補(bu)償(chang)電(dian)路有(you)效(xiao)的消(xiao)除環(huan)境(jing)溫(wen)度(du)對(dui)測(ce)量結(jie)果(guo)的(de)影(ying)響(xiang)，接(jie)插(cha)件(jian)的使(shi)用增(zeng)強了抗(kang)振(zhen)性能(neng)。

6、功能(neng)強大(da)：電流(liu)50A、100A中(zhong)自(zi)由(you)選(xuan)擇(ze)，測(ce)試(shi)時間在(zai)快速(su)、10秒(miao)、30秒(miao)、60秒(miao)，任意選擇，遠遠(yuan)超過其(qi)他(ta)同類(lei)儀器的性(xing)能(neng)。

7、人(ren)機界(jie)面友好：觸摸(mo)屏控制(zhi)，方便(bian)快(kuai)捷，自(zi)主設置(zhi)儀器日期(qi)、時(shi)間，實時(shi)保(bao)存(cun)測(ce)量數(shu)據，即(ji)時打印測(ce)量結(jie)果(guo)。

8、USB轉(zhuan)存：通(tong)過USB接(jie)口(kou)將測(ce)量數(shu)據轉(zhuan)存到(dao)U盤，結(jie)合(he)上位(wei)機軟件(jian)對(dui)測(ce)量數(shu)據進(jin)壹(yi)步分(fen)析處(chu)理(li)。

9、使(shi)用方(fang)便：體積(ji)小、重量輕、便於(yu)攜帶。

產品視頻(pin)     產品(pin)圖(tu)集

產(chan)品附件(jian)圖

儀器主機

專(zhuan)用測(ce)試(shi)鉗

接地線(xian)

保(bao)險管

電源線(xian)

打印紙

u盤

產品(pin)細(xi)節(jie)圖

正(zheng)面

儀器主機

面板(ban)

屏幕

接線(xian)柱

打印機

USB接口(kou)

電源開關(guan)

電源插(cha)口(kou)

接地端(duan)